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全國半導體器件標準化技術(shù)委員會集成電路分技術(shù)委員會（SAC/TC78/SC2）下屬的集成電路電磁兼容標準工作組(以下簡稱“工作組")于2022年4月27日、2022年5月10日和2022年5月27日通過線上分別召開了三次工作組標準討論會。
三次會議共討論9項國家標準，其中2項為集成電路電磁兼容建模標準，另外7項為集成電路電磁兼容測量方法標準，具體如下表所示：
| 集成電路電磁兼容建模標準 | 《集成電路電磁兼容建模第2部分：集成電路電磁干擾特性仿真模型傳導發(fā)射建模（ICEM-CE）》(工作組討論稿) |
| 《集成電路電磁兼容建模 第3部分：集成電路電磁干擾特性仿真模型 輻射發(fā)射建模 (ICEM-RE)》(工作組討論稿) | |
| 集成電路電磁兼容測量方法標準 | 《集成電路 電磁發(fā)射測量 第3部分：表面掃描法》（工作組討論稿） |
| 《集成電路 電磁發(fā)射測量 第8部分：輻射發(fā)射測量 帶狀線法》（工作組討論稿） | |
| 《集成電路 電磁抗擾度測量 第3部分：大電流注入（BCI）法》（工作組討論稿） | |
| 《集成電路 電磁抗擾度測量 第9部分：輻射抗擾度測量 表面掃描法》（工作組討論稿） | |
| 《集成電路 電磁發(fā)射測量 第5部分：傳導發(fā)射測量 工作臺法拉第籠法》（工作組討論稿） | |
| 《集成電路 電磁發(fā)射測量 第6部分：傳導發(fā)射測量 磁場探頭法》（工作組討論稿） | |
| 《集成電路 電磁抗擾度測量 第5部分：工作臺法拉第籠法》（工作組討論稿） |
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